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更快的測(cè)試
高達(dá) 100,000 讀數(shù)/秒
內(nèi)測(cè)試設(shè)置>340/sec
可編程的積分時(shí)間,500 ns 至 1sec
更大的測(cè)試產(chǎn)能
更高精度得到更嚴(yán)的測(cè)試邊際
高達(dá) 8.5 位分辨率
更長(zhǎng)的運(yùn)行時(shí)間
2個(gè)源(10V,10 kΩ)校準(zhǔn),包括交流
對(duì)所有功能和量程,包括交流的自調(diào)整自驗(yàn)證和自動(dòng)校準(zhǔn)